▪ LED 芯片检测
▪ 利用线型扫描相机，实现高速/高精度检测。
▪ 可检测巨型芯片，垂直型芯片 等
▪ 检测项目
   - Pad 缺陷，外延缺陷，Finger 缺陷，ITO 缺陷
   - Mesa Line ，Double chip 等